X-ray sectrometry in SEM and elements of the first transition series

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelElectron microscopy and analysis 1999
ErscheinungsortBristol
Herausgeber (Verlag)IOP Publishing
Seiten123-126
Band161
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999
VeranstaltungInstitute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference - Sheffield, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 24 Aug 199927 Aug 1999

Publikationsreihe

NameInstitute of Physics conference series
Herausgeber (Verlag)IOP Publ.

Konferenz

KonferenzInstitute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference
LandGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtSheffield
Zeitraum24/08/9927/08/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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