Ex situ and in situ characterization of patterned photoreactive thin organic surface layers using friction force microscopy

Quan Shen, Matthias Edler, Thomas Griesser, Astrid-Caroline Knall, Gregor Trimmel, Wolfgang Kern, Christian Teichert*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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