Ex situ and in situ characterization of patterned photoreactive thin organic surface layers using friction force microscopy

Quan Shen, Matthias Edler, Thomas Griesser, Astrid-Caroline Knall, Gregor Trimmel, Wolfgang Kern, Christian Teichert

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)590-598
FachzeitschriftScanning
Jahrgang36
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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