Direct Power Injection (DPI) to Measure the Immunity of Integrated Circuits Against Conducted Disturbances

Bernd Deutschmann, Timm Ostermann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelInternational Mixed-Signal Testing Workshop
Herausgeber (Verlag).
Seiten264-267
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003
VeranstaltungInternational Mixed-Signal Testing Workshop - Seville, Spanien
Dauer: 25 Jun 200327 Jun 2003

Konferenz

KonferenzInternational Mixed-Signal Testing Workshop
LandSpanien
OrtSeville
Zeitraum25/06/0327/06/03

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Dieses zitieren

Deutschmann, B., & Ostermann, T. (2003). Direct Power Injection (DPI) to Measure the Immunity of Integrated Circuits Against Conducted Disturbances. in International Mixed-Signal Testing Workshop (S. 264-267). ..