Atomic force microscopy-scanning electrochemical microscopy: Influence of tip geometry and insulation defects on diffusion controlled currents at conical electrodes

Kelly Leonhardt, Amra Avdic, Alois Lugstein, Ilya Pobelov, Thomas Wandlowski, Ming Wu, Bernhard Gollas, Guy Denuault*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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