Advanced investigations of the composition of submicron particles by using EDXS and Monte Carlo methods

Julian Wagner, Mario Schmied, Stefan Mitsche

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
Veranstaltung13th European Microscopy Congress - Antwerpen / Belgien
Dauer: 22 Aug 200427 Aug 2004

Konferenz

Konferenz13th European Microscopy Congress
OrtAntwerpen / Belgien
Zeitraum22/08/0427/08/04

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