A dual-current-probe method for characterizing common-mode loop impedance

Geping Liu*, Yimin Ding, Chingchi Chen, Richard Kautz, James L. Drewniak, David J. Pommerenke, Marina Y. Koledintseva

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: KonferenzbeitragPaperBegutachtung

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