3D Elemental Mapping using X-Ray Spectrometry in a Dual Beam-Focused Ion

Julian Wagner, Miroslava Schaffer, Mario Schmied, H. Mulders, M. Novak

Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalsprache	englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 30 Juli 2006
Veranstaltung	Microscopy & Microanalysis 2006 - Chicago, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 30 Juli 2006 → 3 Aug. 2006

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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title = "3D Elemental Mapping using X-Ray Spectrometry in a Dual Beam-Focused Ion",

author = "Julian Wagner and Miroslava Schaffer and Mario Schmied and H. Mulders and M. Novak",

year = "2006",

month = jul,

day = "30",

language = "English",

note = "Microscopy & Microanalysis 2006<br/> ; Conference date: 30-07-2006 Through 03-08-2006",

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