3D Elemental Mapping using X-Ray Spectrometry in a Dual Beam-Focused Ion

Julian Wagner, Miroslava Schaffer, Mario Schmied, H. Mulders, M. Novak

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 30 Jul 2006
VeranstaltungMicroscopy & Microanalysis - Chicago, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Jul 20063 Aug 2006

Konferenz

KonferenzMicroscopy & Microanalysis
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtChicago
Zeitraum30/07/063/08/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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