Electron Microscopy:Application to Semiconductor Materials and Device Characterization

Schröttner, H. (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationÖffentlicher Vortrag oder öffentliche Diskussion Science to public

Beschreibung

Talk: Electron Microscopy:Application to Semiconductor Materials and Device Characterization
Zeitraum11 Dez 2007
EreignistitelInstitutspräsentation für Fa. NXP Semiconductors
VeranstaltungstypSonstiges