Verification methodology for battery lifetime requirements of higher class UHF RFID tags

Christoph Trummer, Christoph Kirchsteiger, Alex Janek, Christian Steger, Reinhold Weiß, Markus Pistauer, Damian Dalton

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
Titel2009 IEEE International Conference on RFID
Herausgeber (Verlag).
Seiten170-177
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungIEEE International Conference on RFID - Orlando, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 27 Apr 200928 Apr 2009

Konferenz

KonferenzIEEE International Conference on RFID
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtOrlando
Zeitraum27/04/0928/04/09

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

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