Using Model-Based Testing for Manufacturing and Integration-Testing of Embedded Control Systems

Tobias Rauter, Andrea Höller, Johannes Iber, Christian Josef Kreiner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
Titel2016 Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016

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