Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis (TXRF) using the high flux SAXS camera

P. Wobrauschek*, C. Streli, G. Pepponi, A. Bergmann, O. Glatter

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

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