Studies of high-K CMOS process nodes in the context of future IC applications for ionizing environments

Publikation: KonferenzbeitragAbstract

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Studies of high-K CMOS process nodes in the context of future IC applications for ionizing environments“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Material Science

Physics

Chemical Engineering

Engineering