Structural characterization of poly-Si Films crystallized by Ni Metal Induced Lateral Crystallization

N. Vouroutzis, J. Stoemenos, N. Frangis, G. Z. Radnóczi, D. Knez, F. Hofer, B. Pécz*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Structural characterization of poly-Si Films crystallized by Ni Metal Induced Lateral Crystallization“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.