State-of-the-art attosecond metrology

M. Schultze, A. Wirth, I. Grguras, M. Uiberacker, T. Uphues, A. J. Verhoef, J. Gagnon, U. Kleineberg, E. Goulielmakis, F. Krausz

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)68-77
FachzeitschriftJournal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
Jahrgang184
Ausgabenummer3-6
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - Apr. 2011
Extern publiziertJa

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

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