Negatively Charged In-Plane and Out-Of-Plane Domain Walls with Oxygen-Vacancy Agglomerations in a Ca-Doped Bismuth-Ferrite Thin Film

Ulrich Haselmann, Y. Eren Suyolcu, Ping Chun Wu, Yurii P. Ivanov, Daniel Knez, Peter A. Van Aken, Ying Hao Chu, Zaoli Zhang*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

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