| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Titel | European FIB/Dual Beam User Meeting |
| Herausgeber (Verlag) | . |
| Seiten | 3-3 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2005 |
Nanostrukturing and low voltage TEM specimen polishing on a Nova 200
Michael Rogers
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