Metric learning for novelty and anomaly detection

M. Masana*, Idoia Ruiz, J. Serrat, J. Van De Weijer, A.M. Lopez

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Fingerprint

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