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Measurement methodology for establishing an IC ESD sensitivity database
Zhen Li*, Jiang Xiao, Byongsu Seol, Jongsung Lee, David Pommerenke
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung