Influence of Defects on the Schottky Barrier Height at BaTiO3/RuO2 Interfaces

Katharina N.S. Schuldt, Hui Ding, Jean Christophe Jaud, Jurij Koruza, Andreas Klein*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

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