Beam transfer characteristics of a commercial environmental SEM and a low vacuum SEM

G. Danilatos^*, Johannes Rattenberger, V. Dracopoulos

^*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

1 Ergebnisse

Abgeschlossen
Imaging Processes in Scanning Electron Microscopy
Rattenberger, J., Schröttner, H. & Wagner, J.
1/01/09 → 31/12/23
Projekt: Forschungsprojekt