Fingerprint
Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „A novel method for ESD soft error analysis on integrated circuits using a TEM cell“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.- sortieren
- Gewicht:
- Alphabetisch
A novel method for ESD soft error analysis on integrated circuits using a TEM cell
Jongsung Lee*, Jaedeok Lim, Byongsu Seol, Zhen Li, David Pommerenke
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung