Publikationen pro Jahr
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Publikationen
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Characterisation of the opening behavior of multilayer films with cohesive failure mechanism by in situ peel tests in the ESEM
Heuser, M., Zankel, A., Mayrhofer, C., Reincke, K., Langer, B. & Grellmann, W., Jan 2022, in: Journal of Plastic Film & Sheeting. 38, 1, S. 147-172 26 S.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Review eines Fachbereichs (Review article) › Begutachtung
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Correlating whole sample EDS and Raman mappings – A case study of a Chelyabinsk meteorite fragment
Fitzek, H. M., Zankel, A., Dienstleder, M., Rattenberger, J., Schröttner, H. & Hofer, F., Feb 2022, in: Micron. 153, 19 S., 103177.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Open Access -
The complex synaptic pathways onto a looming-detector neuron revealed using serial block-face scanning electron microscopy
Wernitznig, S., Rind, F. C., Zankel, A., Bock, E., Gütl, D., Hobusch, U., Nikolic, M., Pargger, L., Pritz, E., Radulovic, S., Sele, M., Summerauer, S., Pölt, P. & Leitinger, G., 2022, in: The Journal of Comparative Neurology. 530, 2, S. 518-536 19 S.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Open Access -
The versatile environmental scanning electron microscope: an in situ lab for science and industry
Nachtnebel, M., Schröttner, H. & Zankel, A., 2022.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
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The versatile environmental scanning electron microscope: an in situ lab for science and industry
Nachtnebel, M., Schröttner, H. & Zankel, A., 2022, S. 84.Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract
Verwandte Tätigkeiten
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Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy
Armin Zankel (Redner/in)
6 Jul 2021 → 8 Jul 2021Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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In situ and correlative electron microscopy for the characterization of polymeric materials
Armin Zankel (Redner/in)
9 Jun 2021 → 11 Jun 2021Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE) combined with EDX - correlative microscopy for different fields of science and technology
Armin Zankel (Redner/in)
1 Sep 2019 → 6 Sep 2019Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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The Combination of Electron Microscopy, Raman Microscopy and Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy. Examples from Materials Science
Armin Zankel (Redner/in)
23 Sep 2019 → 25 Sep 2019Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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A green procedure to manufacture nanoparticle-decorated paper substrates
Werner Schlemmer (Redner/in), Wolfgang Johann Fischer (Beitragende/r), Nikša Krstulović (Beitragende/r), Tomislava Vukušić (Beitragende/r), Armin Zankel (Beitragende/r), Gregor Filipič (Beitragende/r), Andrea Jurov (Beitragende/r), Walter Gössler (Beitragende/r) & Stefan Spirk (Beitragende/r)
14 Feb 2019Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
Prämien
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The Paper Award BRONZE: WITec Paper Award 2020
Schmidt, Ruth (Empfänger/-in), Fitzek, Harald Matthias (Empfänger/-in), Nachtnebel, Manfred (Empfänger/-in), Mayrhofer, C. (Empfänger/-in), Schröttner, Hartmuth (Empfänger/-in) & Zankel, Armin (Empfänger/-in), 2020
Auszeichnung: Preise / Medaillen / Ehrungen
Presseberichte
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ZFE: Online-Mikroskopie Lösung ermöglicht Kooperation auf Distanz
16/12/20
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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ACR-Serie Infrastrukturgeräte: hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop
16/06/18
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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Begriffe der Wissenschaft
Ferdinand Hofer, Armin Zankel & Margit Wallner
6/03/11
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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Entdeckungsreise in den Mikroskosmos
Ferdinand Hofer, Armin Zankel & Margit Wallner
6/03/11
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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In-situ Experiments in the ESEM
Zankel, A., Pölt, P. & Reingruber, H.
1/01/09 → …
Projekt: Foschungsprojekt
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Kontrast Mechanismen in "Low Vacuum" und "Environmental" Rasterelektronenmikroskopen
Wagner, J., Zankel, A. & Schmied, M. M.
1/10/03 → 31/01/04
Projekt: Arbeitsgebiet
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Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenspektrometrie und Kristallstrukturanalyse
Schmied, M. M., Zankel, A., Wagner, J., Elis, C., Schröttner, H., Bahr, P. & Reichmann, A.
1/01/95 → 31/01/03
Projekt: Arbeitsgebiet