Vergleich transienter Stresspulse im Bezug zu Transmission Line Pulsing

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Abstract

Transiente Störungen stellen eine zunehmende Herausforderung für die gesamte Elektronikindustrie dar. Ein wesentlicher Faktor für die Robustheit ist die Anstiegszeit der Störung. Ausgewählte Testpulse werden durch einen neuen Fitting Prozess an Transmission Line Pulses angenähert. Die so erhaltenen Pulse werden miteinander bezüglich ihres Spitzenstromes, Pulsweite und Anstiegszeit verglichen. Testpulse für Systeme verfügen bezüglich Testpulsen für Komponenten über mehr Energie, ähnliche Pulsweiten und vergleichbare Anstiegszeiten. In diesem Beitrag wird ein Vorschlag gebracht wie die Anstiegszeit in zukünftigen Komponenten-Charakteristiken eingebracht werden kann.
Original languageGerman
Title of host publicationTagungsband 15. ESD-Forum 2017
Place of PublicationMünchen
PublisherESD Forum e.V.
Pages69-78
Number of pages10
ISBN (Print)978-3-9813357-3-5
Publication statusPublished - Oct 2017
Event15. ESD-Forum - München, Germany
Duration: 23 Oct 201725 Oct 2017

Conference

Conference15. ESD-Forum
CountryGermany
CityMünchen
Period23/10/1725/10/17

Keywords

    Cite this

    Schrey, P. (2017). Vergleich transienter Stresspulse im Bezug zu Transmission Line Pulsing. In Tagungsband 15. ESD-Forum 2017 (pp. 69-78). München: ESD Forum e.V..