VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER THERMISCHEN BELASTUNG EINES UMRICHTERS

Hartmann Michael* (Inventor)

*Corresponding author for this work

Research output: Patent

Abstract

Verfahren zur Bewertung des Schädigungszustandes einer betrieblich belasteten Halbleiterbaugruppe, insbesondere eines Antriebsumrichters, mit zumindest einem auf oder in einem Trägeraufbau (2) angeordneten Halbleiterbauelement (1), wobei es nicht nur möglich ist eine verbrauchte Lebensdauer für die gesamte Halbleiterbaugruppe abzuschätzen, sondern auch unerwartete oder unerwünschte Belastungszustände und somit eine vorschnelle Minderung der verbleibenden Lebensdauer der Halbleiterbaugruppe zu detektieren. Dadurch werden bereits während des Betriebes der Halbleiterbaugruppe laufende Belastungsevaluierungen ermöglicht, die zeitgerechte Interventionen erlauben.

Original languageGerman
Patent numberAT522383
IPCH02M 5/ 00 A I
Priority date12/03/19
Publication statusPublished - 15 Oct 2020
Externally publishedYes

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