Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

Alexander Fian, Manfred Leisch

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

Original languageGerman
Title of host publicationVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of PublicationWeinheim
PublisherPhysik-Verlag GmbH
Pages330-330
Volume1/2001
Publication statusPublished - 2001
EventFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG - Hamburg, Germany
Duration: 26 Mar 200130 Mar 2001

Publication series

NameVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
PublisherPhysik-Verlag GmbH

Conference

ConferenceFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
CountryGermany
CityHamburg
Period26/03/0130/03/01

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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