Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

Alexander Fian, Manfred Leisch

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Original languageGerman
Title of host publicationVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of PublicationWeinheim
PublisherPhysik-Verlag GmbH
Pages330-330
Volume1/2001
Publication statusPublished - 2001
EventFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG - Hamburg, Germany
Duration: 26 Mar 200130 Mar 2001

Publication series

NameVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
PublisherPhysik-Verlag GmbH

Conference

ConferenceFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
CountryGermany
CityHamburg
Period26/03/0130/03/01

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Cite this

Fian, A., & Leisch, M. (2001). Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde. In Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (Vol. 1/2001, pp. 330-330). (Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft). Weinheim: Physik-Verlag GmbH.

Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde. / Fian, Alexander; Leisch, Manfred.

Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 1/2001 Weinheim : Physik-Verlag GmbH, 2001. p. 330-330 (Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft).

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Fian, A & Leisch, M 2001, Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde. in Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. vol. 1/2001, Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Physik-Verlag GmbH, Weinheim, pp. 330-330, Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG, Hamburg, Germany, 26/03/01.
Fian A, Leisch M. Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde. In Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 1/2001. Weinheim: Physik-Verlag GmbH. 2001. p. 330-330. (Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft).
Fian, Alexander ; Leisch, Manfred. / Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 1/2001 Weinheim : Physik-Verlag GmbH, 2001. pp. 330-330 (Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft).
@inproceedings{32df058a5bd4499a8735a1fa552f3eca,
title = "Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde",
author = "Alexander Fian and Manfred Leisch",
note = "ISSN 0420-0195",
year = "2001",
language = "deutsch",
volume = "1/2001",
series = "Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft",
publisher = "Physik-Verlag GmbH",
pages = "330--330",
booktitle = "Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft",

}

TY - GEN

T1 - Untersuchung induzierter Defekte an STM Spitzen mit Hilfe der Atomsonde

AU - Fian, Alexander

AU - Leisch, Manfred

N1 - ISSN 0420-0195

PY - 2001

Y1 - 2001

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

VL - 1/2001

T3 - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

SP - 330

EP - 330

BT - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

PB - Physik-Verlag GmbH

CY - Weinheim

ER -