Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

Abstract

Plötzlich wechselnde Lasten oder elektrostatische Entladungen können zu einem kurzzeitigen Anstieg von Strom und Spannung in elektronischen Komponenten und Systemen führen. Diese Störungen bestehen wenige Nanosekunden bis hin zu einigen Millisekunden.
Bei unzureichender Dimensionierung der Elektronik reichen durch solche transiente Störungen verursachten Fehler von kurzzeitigen Funktionsbeeinträchtigungen oder Ausfällen oder bis hin zur Zerstörung.
Die Untersuchung von elektronischen Komponenten und Systemen hinsichtlich ihrer Robustheit gegenüber transienter Störgrößen gestaltet sich insofern schwierig, als die standardisierten Charakterisierungen durch Gleichstromgrößen nicht ausreichen. DC-Messungen im entsprechenden Hochstrombereich würden zu einer unzulässiger Erwärmung oder Beschädigung des Testobjektes führen.
Um das transiente Hochstromverhalten des Testobjekts untersuchen zu können sind kurze rechteckförmige Pulse notwendig. Diese führen dem Testobjekt nur eine geringe Energie zu und verringern so die thermische Belastung.
LanguageGerman
Title of host publication15. EMV-Fachtagung
Subtitle of host publicationOVE Schriftenreihe Nr. 87
EditorsGunter Winkler
Place of PublicationWien
PublisherÖsterreichischer Verband für Elektrotechnik
Pages47
Volume87
ISBN (Print)3-85133-093-5
StatusPublished - 26 Apr 2017

Keywords

    ASJC Scopus subject areas

    • Engineering(all)

    Fields of Expertise

    • Information, Communication & Computing

    Cite this

    Schrey, P., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2017). Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik. In G. Winkler (Ed.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87 (Vol. 87, pp. 47). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik.

    Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik. / Schrey, Patrick; Deutschmann, Bernd; Winkler, Gunter.

    15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. ed. / Gunter Winkler. Vol. 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. p. 47.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

    Schrey, P, Deutschmann, B & Winkler, G 2017, Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik. in G Winkler (ed.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. vol. 87, Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Wien, pp. 47.
    Schrey P, Deutschmann B, Winkler G. Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik. In Winkler G, editor, 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Vol. 87. Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik. 2017. p. 47.
    Schrey, Patrick ; Deutschmann, Bernd ; Winkler, Gunter. / Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik. 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. editor / Gunter Winkler. Vol. 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. pp. 47
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    title = "Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik",
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    keywords = "Leistungselektronik, Transmission Line Pulsing, Hochstromverhalten, transientes Verhalten",
    author = "Patrick Schrey and Bernd Deutschmann and Gunter Winkler",
    year = "2017",
    month = "4",
    day = "26",
    language = "deutsch",
    isbn = "3-85133-093-5",
    volume = "87",
    pages = "47",
    editor = "Gunter Winkler",
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    }

    TY - GEN

    T1 - Robustheitsuntersuchung von Leistungselektronik

    AU - Schrey,Patrick

    AU - Deutschmann,Bernd

    AU - Winkler,Gunter

    PY - 2017/4/26

    Y1 - 2017/4/26

    N2 - Plötzlich wechselnde Lasten oder elektrostatische Entladungen können zu einem kurzzeitigen Anstieg von Strom und Spannung in elektronischen Komponenten und Systemen führen. Diese Störungen bestehen wenige Nanosekunden bis hin zu einigen Millisekunden.Bei unzureichender Dimensionierung der Elektronik reichen durch solche transiente Störungen verursachten Fehler von kurzzeitigen Funktionsbeeinträchtigungen oder Ausfällen oder bis hin zur Zerstörung.Die Untersuchung von elektronischen Komponenten und Systemen hinsichtlich ihrer Robustheit gegenüber transienter Störgrößen gestaltet sich insofern schwierig, als die standardisierten Charakterisierungen durch Gleichstromgrößen nicht ausreichen. DC-Messungen im entsprechenden Hochstrombereich würden zu einer unzulässiger Erwärmung oder Beschädigung des Testobjektes führen.Um das transiente Hochstromverhalten des Testobjekts untersuchen zu können sind kurze rechteckförmige Pulse notwendig. Diese führen dem Testobjekt nur eine geringe Energie zu und verringern so die thermische Belastung.

    AB - Plötzlich wechselnde Lasten oder elektrostatische Entladungen können zu einem kurzzeitigen Anstieg von Strom und Spannung in elektronischen Komponenten und Systemen führen. Diese Störungen bestehen wenige Nanosekunden bis hin zu einigen Millisekunden.Bei unzureichender Dimensionierung der Elektronik reichen durch solche transiente Störungen verursachten Fehler von kurzzeitigen Funktionsbeeinträchtigungen oder Ausfällen oder bis hin zur Zerstörung.Die Untersuchung von elektronischen Komponenten und Systemen hinsichtlich ihrer Robustheit gegenüber transienter Störgrößen gestaltet sich insofern schwierig, als die standardisierten Charakterisierungen durch Gleichstromgrößen nicht ausreichen. DC-Messungen im entsprechenden Hochstrombereich würden zu einer unzulässiger Erwärmung oder Beschädigung des Testobjektes führen.Um das transiente Hochstromverhalten des Testobjekts untersuchen zu können sind kurze rechteckförmige Pulse notwendig. Diese führen dem Testobjekt nur eine geringe Energie zu und verringern so die thermische Belastung.

    KW - Leistungselektronik, Transmission Line Pulsing, Hochstromverhalten, transientes Verhalten

    M3 - Beitrag in einem Konferenzband

    SN - 3-85133-093-5

    VL - 87

    SP - 47

    BT - 15. EMV-Fachtagung

    PB - Österreichischer Verband für Elektrotechnik

    CY - Wien

    ER -