Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse

Peter Golob

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingChapterResearch

Original languageGerman
Title of host publicationGuß- und Gefügefehler
Place of PublicationBerlin
PublisherSchiele und Schön
Pages13-19
Edition1
Publication statusPublished - 1999

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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Golob, P. (1999). Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. In Guß- und Gefügefehler (1 ed., pp. 13-19). Berlin: Schiele und Schön.

Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. / Golob, Peter.

Guß- und Gefügefehler. 1. ed. Berlin : Schiele und Schön, 1999. p. 13-19.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingChapterResearch

Golob, P 1999, Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. in Guß- und Gefügefehler. 1 edn, Schiele und Schön, Berlin, pp. 13-19.
Golob P. Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. In Guß- und Gefügefehler. 1 ed. Berlin: Schiele und Schön. 1999. p. 13-19
Golob, Peter. / Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse. Guß- und Gefügefehler. 1. ed. Berlin : Schiele und Schön, 1999. pp. 13-19
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TY - CHAP

T1 - Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse

AU - Golob, Peter

PY - 1999

Y1 - 1999

M3 - Beitrag in Buch/Bericht

SP - 13

EP - 19

BT - Guß- und Gefügefehler

PB - Schiele und Schön

CY - Berlin

ER -