Neues Burst-Messverfahren - Charakterisierung der Störfestigkeit von ICs gegen Bursts

Bernd Deutschmann, G. Langer, G. Auderer

Research output: Contribution to journal › Article

Original languageGerman
Pages (from-to)282-284
JournalD&V-Kompendium
Volume2004/05
Publication statusPublished - 2004

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Cite this