Neue Burst-Generatoren zur Prüfung der Störfestigkeit von integrierten Schaltkreisen

Bernd Deutschmann, G. Langer, G. Auderer

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper › peer-review

Original language	German
Title of host publication	Austrochip
Place of Publication	Linz
Publisher	Inst. für Integrierte Schaltungen, Johannes-Kepler-Univ.
Pages	9-12
ISBN (Print)	3-200-00021-X
Publication status	Published - 2003
Event	Austrochip 2003 - Linz, Austria Duration: 3 Oct 2003 → 12 Oct 2003

Fields of Expertise

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TY - GEN

T1 - Neue Burst-Generatoren zur Prüfung der Störfestigkeit von integrierten Schaltkreisen

AU - Deutschmann, Bernd

AU - Langer, G.

AU - Auderer, G.

PY - 2003

Y1 - 2003

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

SN - 3-200-00021-X

SP - 9

EP - 12

BT - Austrochip

PB - Inst. für Integrierte Schaltungen, Johannes-Kepler-Univ.

CY - Linz

T2 - Austrochip 2003

Y2 - 3 October 2003 through 12 October 2003

ER -