Investigation of performance limiting point defects at semiconductor-oxide interfaces using electrically detected magnetic resonance

Gernot Gruber, Markus Koch, Peter Hadley

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Original languageEnglish
Title of host publication64. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft / Echophysics-Pöllau
Publisher.
Pages12-12
Publication statusPublished - 2014
EventJahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Pöllau, Austria
Duration: 24 Sep 201427 Sep 2014

Conference

ConferenceJahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
CountryAustria
CityPöllau
Period24/09/1427/09/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Cite this

Gruber, G., Koch, M., & Hadley, P. (2014). Investigation of performance limiting point defects at semiconductor-oxide interfaces using electrically detected magnetic resonance. In 64. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft / Echophysics-Pöllau (pp. 12-12). ..