Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Institute of Electronics (4390)

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper › peer-review

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Electromagnetic Compatibility
Deutschmann, B. & Winkler, G.
1/01/95 → …
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