Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

Original languageGerman
Title of host publication12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004
Place of PublicationBerlin Offenbach
PublisherVDE Verlag GmbH
Pages421-427
ISBN (Print)3-8007-2810-9
Publication statusPublished - 2004

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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Ostermann, T., Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2004). Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene. In 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004 (pp. 421-427). Berlin Offenbach: VDE Verlag GmbH.