Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

Alexander Fian, Manfred Leisch

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

Original languageGerman
Title of host publicationVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of PublicationWeinheim
PublisherPhysik-Verlag GmbH
Pages928-928
Volume5/1999
Publication statusPublished - 1999
EventFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG - Münster, Germany
Duration: 22 Mar 199926 Mar 1999

Conference

ConferenceFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
CountryGermany
CityMünster
Period22/03/9926/03/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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