Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

Alexander Fian, Manfred Leisch

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Original languageGerman
Title of host publicationVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of PublicationWeinheim
PublisherPhysik-Verlag GmbH
Pages928-928
Volume5/1999
Publication statusPublished - 1999
EventFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG - Münster, Germany
Duration: 22 Mar 199926 Mar 1999

Conference

ConferenceFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
CountryGermany
CityMünster
Period22/03/9926/03/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Cite this

Fian, A., & Leisch, M. (1999). Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. In Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (Vol. 5/1999, pp. 928-928). Weinheim: Physik-Verlag GmbH.

Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. / Fian, Alexander; Leisch, Manfred.

Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 5/1999 Weinheim : Physik-Verlag GmbH, 1999. p. 928-928.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Fian, A & Leisch, M 1999, Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. in Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. vol. 5/1999, Physik-Verlag GmbH, Weinheim, pp. 928-928, Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG, Münster, Germany, 22/03/99.
Fian A, Leisch M. Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. In Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 5/1999. Weinheim: Physik-Verlag GmbH. 1999. p. 928-928
Fian, Alexander ; Leisch, Manfred. / Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Vol. 5/1999 Weinheim : Physik-Verlag GmbH, 1999. pp. 928-928
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TY - GEN

T1 - Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

AU - Fian, Alexander

AU - Leisch, Manfred

PY - 1999

Y1 - 1999

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

VL - 5/1999

SP - 928

EP - 928

BT - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

PB - Physik-Verlag GmbH

CY - Weinheim

ER -