Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

Alexander Fian; Manfred Leisch

Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

Institute of Solid State Physics (5130)

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference paper

Original language	German
Title of host publication	Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of Publication	Weinheim
Publisher	Physik-Verlag GmbH
Pages	928-928
Volume	5/1999
Publication status	Published - 1999
Event	Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG: Arbeitskreis Festkörperphysik - Münster, Germany Duration: 22 Mar 1999 → 26 Mar 1999

Conference

Conference	Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der DPG
Country/Territory	Germany
City	Münster
Period	22/03/99 → 26/03/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
Experimental

Cite this

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TY - GEN

T1 - Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

AU - Fian, Alexander

AU - Leisch, Manfred

PY - 1999

Y1 - 1999

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

VL - 5/1999

SP - 928

EP - 928

BT - Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

PB - Physik-Verlag GmbH

CY - Weinheim

T2 - Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft 1999

Y2 - 22 March 1999 through 26 March 1999

ER -