ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik

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Abstract

Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integrierten
Schaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierter
Qualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.
Original languageGerman
Title of host publication15. EMV-Fachtagung
Subtitle of host publicationOVE Schriftenreihe Nr. 87
EditorsGunter Winkler
Place of PublicationWien
PublisherÖsterreichischer Verband für Elektrotechnik
Pages21
Volume87
ISBN (Print)3-85133-093-5
Publication statusPublished - 26 Apr 2017

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  • Engineering(all)

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Cite this

Schrey, P., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2017). ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. In G. Winkler (Ed.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87 (Vol. 87, pp. 21). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik.