ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

Abstract

Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integrierten
Schaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierter
Qualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.
LanguageGerman
Title of host publication15. EMV-Fachtagung
Subtitle of host publicationOVE Schriftenreihe Nr. 87
EditorsGunter Winkler
Place of PublicationWien
PublisherÖsterreichischer Verband für Elektrotechnik
Pages21
Volume87
ISBN (Print)3-85133-093-5
StatusPublished - 26 Apr 2017

Keywords

    ASJC Scopus subject areas

    • Engineering(all)

    Fields of Expertise

    • Information, Communication & Computing

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    Schrey, P., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2017). ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. In G. Winkler (Ed.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87 (Vol. 87, pp. 21). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik.

    ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. / Schrey, Patrick; Deutschmann, Bernd; Winkler, Gunter.

    15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. ed. / Gunter Winkler. Vol. 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. p. 21.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

    Schrey, P, Deutschmann, B & Winkler, G 2017, ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. in G Winkler (ed.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. vol. 87, Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Wien, pp. 21.
    Schrey P, Deutschmann B, Winkler G. ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. In Winkler G, editor, 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Vol. 87. Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik. 2017. p. 21.
    Schrey, Patrick ; Deutschmann, Bernd ; Winkler, Gunter. / ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. editor / Gunter Winkler. Vol. 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. pp. 21
    @inproceedings{970faf0597ac49df844269e1ebc2e424,
    title = "ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik",
    abstract = "Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgr{\"o}{\ss}en in integriertenSchaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen {\"u}berpr{\"u}fen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierterQualifikationstests. Die Testpulse f{\"u}r ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests f{\"u}r IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist f{\"u}r die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.",
    keywords = "ESD, Wunsch Bell Charakterisitk, EMV, transient disturbance",
    author = "Patrick Schrey and Bernd Deutschmann and Gunter Winkler",
    year = "2017",
    month = "4",
    day = "26",
    language = "deutsch",
    isbn = "3-85133-093-5",
    volume = "87",
    pages = "21",
    editor = "Gunter Winkler",
    booktitle = "15. EMV-Fachtagung",
    publisher = "{\"O}sterreichischer Verband f{\"u}r Elektrotechnik",

    }

    TY - GEN

    T1 - ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik

    AU - Schrey,Patrick

    AU - Deutschmann,Bernd

    AU - Winkler,Gunter

    PY - 2017/4/26

    Y1 - 2017/4/26

    N2 - Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integriertenSchaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierterQualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.

    AB - Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integriertenSchaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierterQualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.

    KW - ESD, Wunsch Bell Charakterisitk, EMV, transient disturbance

    M3 - Beitrag in einem Konferenzband

    SN - 3-85133-093-5

    VL - 87

    SP - 21

    BT - 15. EMV-Fachtagung

    PB - Österreichischer Verband für Elektrotechnik

    CY - Wien

    ER -