EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Roland Jungreithmair

Research output: Contribution to journalArticle

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    Electromagnetic Compatibility

    Deutschmann, B. & Winkler, G.

    1/01/95 → …

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