EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Roland Jungreithmair

Research output: Contribution to journalArticleResearch

Original languageGerman
Pages (from-to)35-37
JournalTest-Kompendium
Volume2003
Publication statusPublished - 2003

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EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen). / Deutschmann, Bernd; Winkler, Gunter; Jungreithmair, Roland.

In: Test-Kompendium, Vol. 2003, 2003, p. 35-37.

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TY - JOUR

T1 - EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

AU - Deutschmann, Bernd

AU - Winkler, Gunter

AU - Jungreithmair, Roland

PY - 2003

Y1 - 2003

M3 - Artikel

VL - 2003

SP - 35

EP - 37

JO - Test-Kompendium

JF - Test-Kompendium

ER -