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Abstract
Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.
Translated title of the contribution | DPI-Testboard für Analog-Digital-Konverter |
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Original language | English |
Title of host publication | 15. EMV-Fachtagung |
Editors | Gunter Winkler |
Place of Publication | Wien |
Publisher | Österreichischer Verband für Elektrotechnik |
Pages | 20 |
Number of pages | 1 |
Volume | 87 |
ISBN (Print) | 3-85133-093-5 |
Publication status | Published - 26 Apr 2017 |
Publication series
Name | OVE Schriftenreihe |
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Volume | 87 |
ASJC Scopus subject areas
- Engineering(all)
Activities
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15. EMV-Fachtagung
Michael Fuchs (Speaker)
26 Apr 2017Activity: Talk or presentation › Poster presentation › Science to science