DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters

Michael Fuchs, Patrick Rosenberger

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

Abstract

Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.
Translated title of the contributionDPI-Testboard für Analog-Digital-Konverter
Original languageEnglish
Title of host publication15. EMV-Fachtagung
EditorsGunter Winkler
Place of PublicationWien
PublisherÖsterreichischer Verband für Elektrotechnik
Pages20
Number of pages1
Volume87
ISBN (Print)3-85133-093-5
Publication statusPublished - 26 Apr 2017

Publication series

NameOVE Schriftenreihe
Volume87

Keywords

    ASJC Scopus subject areas

    • Engineering(all)

    Cite this

    Fuchs, M., & Rosenberger, P. (2017). DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters. In G. Winkler (Ed.), 15. EMV-Fachtagung (Vol. 87, pp. 20). (OVE Schriftenreihe; Vol. 87). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik.