Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazitäten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearchpeer-review

Original languageGerman
Title of host publicationMesstechnisches Symposium
Publisher.
Pages103-114
Publication statusPublished - 2007
EventMesstechnisches Symposium -
Duration: 20 Sep 200722 Sep 2007

Conference

ConferenceMesstechnisches Symposium
Period20/09/0722/09/07

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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