Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazitäten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik

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Original language	German
Title of host publication	Messtechnisches Symposium
Publisher	.
Pages	103-114
Publication status	Published - 2007
Event	Messtechnisches Symposium - Duration: 20 Sept 2007 → 22 Sept 2007

Conference	Messtechnisches Symposium
Period	20/09/07 → 22/09/07

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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title = "Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazit{\"a}ten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik",

author = "Daniel Watzenig",

year = "2007",

language = "deutsch",

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note = "Messtechnisches Symposium ; Conference date: 20-09-2007 Through 22-09-2007",

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