Gunter Winkler

Ass.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn.

1986 …2019

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Research Output

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Article
2018

Impact of electromagnetic interference on the functional safety of smart power devices for automotive applications

Deutschmann, B., Winkler, G. & Kastner, P., 1 Aug 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 135, 4-5, p. 352-359 8 p.

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2016

EMC performance measurements for professional wireless microphone systems

Auinger, B., Freidl, P. F., Gadringer, M. E., Glawan, C., Winkler, G. & Bösch, W., 2016, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 2, p. 1-7

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Highlighting the distribution path of transient disturbances by near field scanning techniques

Deutschmann, B., Schindlbacher, S. & Winkler, G., 28 Jan 2016, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 133, 1, p. 18-24

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2012

Zehn Jahre EMV-Fachtagung in Österreich

Lamedschwandner, K. & Winkler, G., 2012, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 1, p. a19-a21

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2011

Evaluation of a Modified ADC-Based Thermometry Bridge

Podgornik, T., Batagelj, V., Winkler, G., Hartl, H. & Drnovsek, J., 2011, In : International Journal of Thermophysics. 32, 11-12, p. 2409-2419

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2008

EMV elektronischer Unterbaugruppen und integrierter Schaltkreise im Kraftfahrzeug

Lamedschwandner, K., Preineder, H., Winkler, G., Deutschmann, B. & Ostermann, T., 2008, In : HF-Report. 123, 1/2, p. 40-44

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2007

Ein netzwerkfähiges Millikelvinthermometer für den Laborbetrieb

Hartl, H. & Winkler, G., 2007, In : Forschungsjournal der Technischen Universität Graz. SS07, p. 10-10

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2006

Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene

Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., Winkler, G. & Ostermann, T., 2006, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 1-2, p. 9-14

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EMV auf Geräte-, System- und IC-Ebene - Das EMV-Verhalten von Geräten und Systemen im Vergleich zur EMV-Charakterisierung auf IC-Ebene

Ostermann, T., Winkler, G., Lamedschwandner, K. & Deutschmann, B., 2004, In : D&V-Kompendium. 2004/05, p. 288-291

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Measuring the Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits with IEC 61967-4 (The Measuring Method and its Weaknesses)

Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2004, In : EMC Society of Australia newsletter. 28, p. 12-17

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2003

EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, In : Test-Kompendium. 2003, p. 35-37

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Messmethode zur Messung der leitungsgeführten Störemission von ICs (Die Probleme mit der 150 Ohm Methode, IEC 61967-4)

Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, In : EMC-Kompendium. 2003, p. 174-176

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1991

A monolithic CMOS 20-b analog-to-digital converter

Leopold, H., Winkler, G., O'Leary, P., Ilzer, K. & Jernej, J., 1991, In : IEEE journal of solid-state circuits. 26, 7, p. 910-916

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