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Research Output 2001 2019

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Article
2019

A dynamic model of power metal-oxide-semiconductor field-effect transistor half-bridges for the fast simulation of switching induced electromagnetic emissions

Büchl, D., Kemmetmüller, W., Glück, T., Deutschmann, B. & Kugi, A., 4 May 2019, In : Mathematical and computer modelling of dynamical systems. 25, 3, p. 242-260 19 p.

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Open Access
Field-effect Transistor
MOSFET devices
Oxides
Semiconductors
Dynamic models
2018
Open Access
Electrostatic discharge
Capacitance
Leakage currents
Integrated circuits
Sensors

Großes Interesse an winzigen Bauelementen

Deutschmann, B., 18 Feb 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 1.2018, p. 12-14

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Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

Fuchs, M., Auinger, B., Pichler, L., Herdin, M. & Deutschmann, B., May 2018, In : Elektronik. Sonderh. Power, p. 12-17

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Open Access

Impact of electromagnetic interference on the functional safety of smart power devices for automotive applications

Deutschmann, B., Winkler, G. & Kastner, P., 1 Aug 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 135, 4-5, p. 352-359 8 p.

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Signal interference
Switches
Anti-lock braking systems
Electric fuses
Temperature
Electromagnetic compatibility
DC-DC converters
Topology
Electric potential

Intelligent NFC potassium measurement strip with hemolysis check in capillary blood

Kollegger, C., Greiner, P., Siegl, I., Steffan, C., Wiessflecker, M., Pekec, B., Hajnsek, M., Sinner, F., Holweg, G. & Deutschmann, B., 23 Jan 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 135, p. 83-88 6 p.

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Potassium
Blood
LSI circuits
Electrochemical sensors
Data transfer

Mikroelektronik aus Österreich – Grundlage für Österreichs Innovations- und Wettbewerbsfähigkeit

Deutschmann, B., 13 Feb 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 135, 1, p. 1-2 2 p.

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Optimized gate driver for high-frequency buck converter

Subotskaya, V., Mihal, V., Tulupov, M. & Deutschmann, B., 9 Jan 2018, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. p. 1-8 8 p.

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Frequency converters
Switching frequency
Zero voltage switching
Electric potential
Diodes
2017

On the Robustness of CMOS-Chopped Operational Amplifiers to Conducted Electromagnetic Interferences

Lavarda, A., Petruzzi, L., Radez, N. & Deutschmann, B., 2017, In : IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 60, 2, p. 478-486

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operational amplifiers
electromagnetic interference
Operational amplifiers
Signal interference
CMOS
2016

Highlighting the distribution path of transient disturbances by near field scanning techniques

Deutschmann, B., Schindlbacher, S. & Winkler, G., 28 Jan 2016, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 133, 1, p. 18-24

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Intelligent plaster for accurate body temperature monitoring and investigations regarding EMI using near-field magnetic scan

Kollegger, C., Steffan, C., Greiner, P., Wiessflecker, M., Holweg, G. & Deutschmann, B., 2016, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 133, 1, p. 25-31

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2008

EMV elektronischer Unterbaugruppen und integrierter Schaltkreise im Kraftfahrzeug

Lamedschwandner, K., Preineder, H., Winkler, G., Deutschmann, B. & Ostermann, T., 2008, In : HF-Report. 123, 1/2, p. 40-44

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Methodology to Predict EME Effects in CAN Bus Systems Using VHDL-AMS

Gürsoy, M., Jahn, S. & Deutschmann, B., 2008, In : IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 50, 4, p. 993-1002

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2006

ICs als Quelle der Störemissionen von elektronischen Geräten und Systemen?

Deutschmann, B., 2006, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 123, 1/2, p. 15-21

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On the Effects of Transient Electromagnetic Interference on Integrated Circuits

Deutschmann, B., Sicard, E. & Ben Dhia, S., 2006, In : Electronic device failure analysis. 8, 4, p. 16-24

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Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene

Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., Winkler, G. & Ostermann, T., 2006, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 1-2, p. 9-14

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2005

EMC awareness for multi chip modules

Loipold, G. & Deutschmann, B., 2005, In : e&i - Elektrotechnik und Informationstechnik. 122, 12, p. 460-465

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IC- versus Systemlevel-EMV

Deutschmann, B. & Pitsch, H., 2005, In : E&E-Kompendium. 2005/06, p. 211-213

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Modellierung transienter Störgrößen

Deutschmann, B. & Maier, D., 2005, In : E&E-Kompendium. 2005/06, p. 240-242

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2004

AS2522: starter kit for communications device manufacturers

Deutschmann, B., 2004, In : Electronic engineering & product world. p. 125-126

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EMV auf Geräte-, System- und IC-Ebene - Das EMV-Verhalten von Geräten und Systemen im Vergleich zur EMV-Charakterisierung auf IC-Ebene

Ostermann, T., Winkler, G., Lamedschwandner, K. & Deutschmann, B., 2004, In : D&V-Kompendium. 2004/05, p. 288-291

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Influence of the Power Supply on the Radiated Electromagnetic Emission of Integrated Circuits

Ostermann, T., Deutschmann, B. & Bacher, C., 2004, In : Microelectronics journal. 35, 6, p. 525-530

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Neues Burst-Messverfahren - Charakterisierung der Störfestigkeit von ICs gegen Bursts

Deutschmann, B., Langer, G. & Auderer, G., 2004, In : D&V-Kompendium. 2004/05, p. 282-284

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Starter kits reduce time to market

Deutschmann, B., 2004, In : --Fachzeitschrift nicht gefunden--. p. 96-97

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2003

EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, In : Test-Kompendium. 2003, p. 35-37

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EMV in der Kraftfahrzeugtechnik (EMV-Anforderungen an elektrische/elektronische Komponenten und integrierte Schaltungen)

Lamedschwandner, K. & Deutschmann, B., 2003, In : EMC-Kompendium. p. 196-199

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Messmethode zur Messung der leitungsgeführten Störemission von ICs (Die Probleme mit der 150 Ohm Methode, IEC 61967-4)

Deutschmann, B., Winkler, G. & Jungreithmair, R., 2003, In : EMC-Kompendium. 2003, p. 174-176

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2002

Bitte nicht stören! Störemission und Störfestigkeit von Kfzs

Deutschmann, B. & Lamedschwandner, K., 2002, In : Design & Elektronik. 3, p. 59-62

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EMV-Prüfungen für Kraftfahrzeuge

Lamedschwandner, K. & Deutschmann, B., 2002, In : Elektronik-Report. 11, p. 6-7

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Let's get started, Starterkits erleichtern Elektronikentwicklung

Deutschmann, B. & Greimel-Rechling, B., 2002, In : Design & Elektronik. 5, p. 35-36

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2001

EMV-gerechte Entwicklung von integrierten Schaltkreisen

Deutschmann, B., 2001, In : EMV-ESD. 12, p. 11-13

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EMV-gerechte Entwicklung von ITE-Geräten

Deutschmann, B. & Lamedschwandner, K., 2001, In : Design & verification. 12, 3, p. 22-25

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EMV-gerecht Entwicklung von ITE-Geräten

Deutschmann, B. & Lamedschwandner, K., 2001, In : Telematik. 7, 1, p. 32-33

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