X-ray radiation damage of organic semiconductor thin films during grazing incidence diffraction experiments

Alfred Neuhold, Jiri Novak, Heinz-Georg Flesch, Armin Moser, Tatjana Djuric, Souren Grigorian, Linda Grodd, Ulrich Pietsch, Roland Resel

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalsprachedeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungE-MRS Spring Meeting 2011 - Nizza, Frankreich
Dauer: 9 Mai 201113 Mai 2011

Konferenz

KonferenzE-MRS Spring Meeting 2011
LandFrankreich
OrtNizza
Zeitraum9/05/1113/05/11

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Application
  • Experimental

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