X-ray radiation damage of organic semiconductor thin films during grazing incidence diffraction experiments

Alfred Neuhold, Jiri Novak, Heinz-Georg Flesch, Armin Moser, Tatjana Djuric, Linda Grodd, Souren Grigorian, Ulrich Pietsch, Roland Resel

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)64-68
FachzeitschriftNuclear instruments & methods in physics research / B
Jahrgang284
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Application
  • Experimental

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