X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices

Alfred Neuhold, Hannes Brandner, Simon Außerlechner, Stefan Lorbek, Markus Neuschitzer, Egbert Zojer, Christian Teichert, Roland Resel

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)479-487
FachzeitschriftOrganic Electronics
Jahrgang14
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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