Visual Feature Space Analysis for Unsupervised Effectiveness Estimation and Feature Engineering

Tobias Schreck, Daniel A. Keim, Christian Panse

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelConference proceedings / ICME 2006
ErscheinungsortPiscataway, NJ
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten925-928
ISBN (Print)1-42440-367-7
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
Veranstaltung2006 IEEE International Conference on Multimedia and Expo, ICME 2006 - Toronto, Kanada
Dauer: 9 Jul 200612 Jul 2006

Konferenz

Konferenz2006 IEEE International Conference on Multimedia and Expo, ICME 2006
LandKanada
OrtToronto
Zeitraum9/07/0612/07/06

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Dieses zitieren

Schreck, T., Keim, D. A., & Panse, C. (2006). Visual Feature Space Analysis for Unsupervised Effectiveness Estimation and Feature Engineering. in Conference proceedings / ICME 2006 (S. 925-928). Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers. https://doi.org/10.1109/ICME.2006.262671