Vergleich transienter Stresspulse im Bezug zu Transmission Line Pulsing

Patrick Schrey

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Abstract

Transiente Störungen stellen eine zunehmende Herausforderung für die gesamte Elektronikindustrie dar. Ein wesentlicher Faktor für die Robustheit ist die Anstiegszeit der Störung. Ausgewählte Testpulse werden durch einen neuen Fitting Prozess an Transmission Line Pulses angenähert. Die so erhaltenen Pulse werden miteinander bezüglich ihres Spitzenstromes, Pulsweite und Anstiegszeit verglichen. Testpulse für Systeme verfügen bezüglich Testpulsen für Komponenten über mehr Energie, ähnliche Pulsweiten und vergleichbare Anstiegszeiten. In diesem Beitrag wird ein Vorschlag gebracht wie die Anstiegszeit in zukünftigen Komponenten-Charakteristiken eingebracht werden kann.
Originalsprachedeutsch
TitelTagungsband 15. ESD-Forum 2017
ErscheinungsortMünchen
Herausgeber (Verlag)ESD Forum e.V.
Seiten69-78
Seitenumfang10
ISBN (Print)978-3-9813357-3-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - Okt. 2017
Veranstaltung15. ESD-Forum - München, Deutschland
Dauer: 23 Okt. 2017 → 25 Okt. 2017

Konferenz

Konferenz15. ESD-Forum
Land/GebietDeutschland
OrtMünchen
Zeitraum23/10/17 → 25/10/17

Schlagwörter

  • Elektrostatische Entladung
  • Transmission Line Pulsing
  • Wunsch-Bell Charakteristik
  • 1 Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)
  • 1 Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung

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