VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER THERMISCHEN BELASTUNG EINES UMRICHTERS

Hartmann Michael

VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER THERMISCHEN BELASTUNG EINES UMRICHTERS

^*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Schutzrecht › Patent

Abstract

Verfahren zur Bewertung des Schädigungszustandes einer betrieblich belasteten Halbleiterbaugruppe, insbesondere eines Antriebsumrichters, mit zumindest einem auf oder in einem Trägeraufbau (2) angeordneten Halbleiterbauelement (1), wobei es nicht nur möglich ist eine verbrauchte Lebensdauer für die gesamte Halbleiterbaugruppe abzuschätzen, sondern auch unerwartete oder unerwünschte Belastungszustände und somit eine vorschnelle Minderung der verbleibenden Lebensdauer der Halbleiterbaugruppe zu detektieren. Dadurch werden bereits während des Betriebes der Halbleiterbaugruppe laufende Belastungsevaluierungen ermöglicht, die zeitgerechte Interventionen erlauben.

Originalsprache	deutsch
Veröffentlichungsnummer	AT522383
IPC	H02M 5/ 00 A I
Prioritätsdatum	12/03/19
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 15 Okt. 2020
Extern publiziert	Ja

Dieses zitieren

@misc{b6461da6376e4fc58ba953e3df2b6c15,

title = "VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER THERMISCHEN BELASTUNG EINES UMRICHTERS",

abstract = "Verfahren zur Bewertung des Sch{\"a}digungszustandes einer betrieblich belasteten Halbleiterbaugruppe, insbesondere eines Antriebsumrichters, mit zumindest einem auf oder in einem Tr{\"a}geraufbau (2) angeordneten Halbleiterbauelement (1), wobei es nicht nur m{\"o}glich ist eine verbrauchte Lebensdauer f{\"u}r die gesamte Halbleiterbaugruppe abzusch{\"a}tzen, sondern auch unerwartete oder unerw{\"u}nschte Belastungszust{\"a}nde und somit eine vorschnelle Minderung der verbleibenden Lebensdauer der Halbleiterbaugruppe zu detektieren. Dadurch werden bereits w{\"a}hrend des Betriebes der Halbleiterbaugruppe laufende Belastungsevaluierungen erm{\"o}glicht, die zeitgerechte Interventionen erlauben.",

author = "Hartmann Michael",

year = "2020",

month = oct,

day = "15",

language = "deutsch",

type = "Patent",

note = "AT522383; H02M 5/ 00 A I",

}

TY - PAT

T1 - VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER THERMISCHEN BELASTUNG EINES UMRICHTERS

AU - Michael, Hartmann

PY - 2020/10/15

Y1 - 2020/10/15

N2 - Verfahren zur Bewertung des Schädigungszustandes einer betrieblich belasteten Halbleiterbaugruppe, insbesondere eines Antriebsumrichters, mit zumindest einem auf oder in einem Trägeraufbau (2) angeordneten Halbleiterbauelement (1), wobei es nicht nur möglich ist eine verbrauchte Lebensdauer für die gesamte Halbleiterbaugruppe abzuschätzen, sondern auch unerwartete oder unerwünschte Belastungszustände und somit eine vorschnelle Minderung der verbleibenden Lebensdauer der Halbleiterbaugruppe zu detektieren. Dadurch werden bereits während des Betriebes der Halbleiterbaugruppe laufende Belastungsevaluierungen ermöglicht, die zeitgerechte Interventionen erlauben.

AB - Verfahren zur Bewertung des Schädigungszustandes einer betrieblich belasteten Halbleiterbaugruppe, insbesondere eines Antriebsumrichters, mit zumindest einem auf oder in einem Trägeraufbau (2) angeordneten Halbleiterbauelement (1), wobei es nicht nur möglich ist eine verbrauchte Lebensdauer für die gesamte Halbleiterbaugruppe abzuschätzen, sondern auch unerwartete oder unerwünschte Belastungszustände und somit eine vorschnelle Minderung der verbleibenden Lebensdauer der Halbleiterbaugruppe zu detektieren. Dadurch werden bereits während des Betriebes der Halbleiterbaugruppe laufende Belastungsevaluierungen ermöglicht, die zeitgerechte Interventionen erlauben.

M3 - Patent

M1 - AT522383

ER -