Using Device Simulations to Optimize ESD Protection Circuits

B. Fankhauser, Bernd Deutschmann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
Herausgeber (Verlag).
Seiten963-968
ISBN (Print)0-7803-8443-1
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
Veranstaltung2004 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2004 - Santa Clara, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 9 Aug 200413 Aug 2004

Konferenz

Konferenz2004 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtSanta Clara
Zeitraum9/08/0413/08/04

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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